外国関連特許ニュース

No.15(2003,6,23) 、米国特許庁による発明の単一性についてのパブリックコメントの聴取

　米国特許商標庁は、去る５月２０日発行のFederal Registerにおいて、発明の単一性の基準についての変更のためのスタディについてのパブリックコメントを求めた。
すなわち、米国特許商標庁は、PCT型の発明の単一性の採用のために必要な変更についてスタディを行っており、そのために予めパブリックコメントを求めて今後のスタディの範囲や内容の方向付けをせんとしている。
　 パブリックコメントの受付期限は来る、７月２１日である。詳しくは、米国特許商標庁のウェブサイト：www.uspto.gov. を参照されたい。